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针对某SOC中嵌入的8K SRAM模块，讨论了基于March C-算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率，研究了测试算法的选择、数据背景的产生，并完成了基于March C-算法的BIST电路的设计。实验证明，该算法的BIST实现能大幅提高故障覆盖率。
基于March C-算法的SRAM BIST电路的设计
【摘 要】
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针对某SOC中嵌入的8K SRAM模块，讨论了基于March C-算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率，研究了测试算法的选择、数据背景的产生，并完成了基于Marc
【机 构】
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江南大学信息工程学院,中国电子科技集团公司第五十八研究所
【出 处】
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半导体技术
【发表日期】
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2007年3期
【基金项目】
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电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室资助项目（51433020105DZ6802）
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