IC制备中钨插塞CMP技术的研究

来源 :半导体技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:shifter_2009
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对目前超大规模集成电路钨插塞化学机械全局平面化(CMP)的原理及工艺进行了分析,对钨抛光浆料的组成成分进行了研究,开发了一种能够适合工业生产的钨的碱性抛光浆料,并对钨抛光浆料今后的发展进行了展望。
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