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IC制备中钨插塞CMP技术的研究
IC制备中钨插塞CMP技术的研究
来源 :半导体技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:shifter_2009
【摘 要】
:
对目前超大规模集成电路钨插塞化学机械全局平面化(CMP)的原理及工艺进行了分析,对钨抛光浆料的组成成分进行了研究,开发了一种能够适合工业生产的钨的碱性抛光浆料,并对钨抛光浆
【作 者】
:
李薇薇
周建伟
尹睿
刘玉岭
【机 构】
:
河北工业大学微电子研究所
【出 处】
:
半导体技术
【发表日期】
:
2006年1期
【关键词】
:
钨
化学机械全局平面化
抛光浆料
碱性
tungsten
CMP
slurry
alkalescence
【基金项目】
:
河北省自然基金资助项目(599041)
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对目前超大规模集成电路钨插塞化学机械全局平面化(CMP)的原理及工艺进行了分析,对钨抛光浆料的组成成分进行了研究,开发了一种能够适合工业生产的钨的碱性抛光浆料,并对钨抛光浆料今后的发展进行了展望。
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