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高密度PCB的电测试技术——测试技术面临挑战
高密度PCB的电测试技术——测试技术面临挑战
来源 :中国西部地区第二届SMT学术研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:gnaixug
【摘 要】
:
由于电子产品装配密度急剧增加,不仅给印刷电路版生产带来了许多挑战,而且还要引起测试技术的革命,本文仅讨论基板测试技术,也称裸板测试.
【作 者】
:
李海
【机 构】
:
江南计算技术研究所
【出 处】
:
中国西部地区第二届SMT学术研讨会
【发表日期】
:
2001年4期
【关键词】
:
印刷电路板
电测试技术
基板测试
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由于电子产品装配密度急剧增加,不仅给印刷电路版生产带来了许多挑战,而且还要引起测试技术的革命,本文仅讨论基板测试技术,也称裸板测试.
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