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[学位论文] 作者：闫爱斌,,
来源：合肥工业大学 年份：2015
随着集成电路工艺水平的不断进步,芯片集成度和性能大幅提升,而其面积和供电电压却不断减小。但是,工艺尺寸的不断缩减对集成电路的可靠性也带来巨大挑战。纳米工艺下,软错误...
[期刊论文] 作者：闫爱斌,,
来源：白城师范学院学报 年份：2019
为了提高《软件项目管理》课程教学效果,本文针对安徽大学计算机科学与技术学院《软件项目管理》课程存在的问题,提出一种优先级调整的《软件项目管理》课程教学方法.该方法...
[期刊论文] 作者：王啟军,闫爱斌,
来源：东南大学学报：英文版 年份：2018
为了有效容忍双节点翻转,提出了一种新颖的22nm互补金属氧化物半导体工艺下双节点翻转自恢复的抗辐射加固锁存器.使用3个互锁的单节点翻转自恢复单元,并且每个单节点翻转自恢...
[期刊论文] 作者：闫爱斌, 程凡, 崔杰,,
来源：电脑知识与技术 年份：2017
为了达成工程人才的全球流动互认,诸多的中国高等院校已广泛参与至工程教育专业认证中来。文章针对软件工程专业的一门核心课——软件项目管理存在的一些问题,结合安徽大学计...
[期刊论文] 作者：程凡, 闫爱斌, 苏延森,,
来源：电脑知识与技术 年份：2017
软件工程实验作为一门融合理论与实践的综合课程,其旨在帮助学生理解软件工程基本概念的同时,也为其日后走向企业成为一名合格的软件工程师奠定坚实的基础,而现有的事实是当...
[期刊论文] 作者：程凡 闫爱斌 苏延森,
来源：电脑知识与技术 年份：2017
摘要：软件工程实验作为一门融合理论与实践的综合课程，其旨在帮助学生理解软件工程基本概念的同时，也为其日后走向企业成为一名合格的软件工程师奠定坚实的基础，而现有的事实是当前软件工程实验教学培养出的学生很难真正满足企业的实际需求。对此，该文以安徽大学为例......
[期刊论文] 作者：宋钛,黄正峰,闫爱斌,
来源：计算机辅助设计与图形学学报 年份：2022
针对芯片生产链长、安全性差、可靠性低,导致硬件木马防不胜防的问题,提出一种改进的机器学习分类算法.首先采集不同电压下电路的延时信号,通过KNN分类算法找出延时差异,若延时与干净电路相同,则判定为干净电路,否则判定有木马;然后联合多项式回归算法对木马延......
[期刊论文] 作者：梁华国,袁德冉,闫爱斌,黄正峰,,
来源：计算机辅助设计与图形学学报 年份：2015
为了准确评估电路的失效概率,提出一种考虑单粒子多瞬态(SEMT)的数字电路失效概率评估方法.该方法通过解析电路门级网表提取SEMT故障位置对;使用双指数电流源模型模拟故障注入,通过SEMT脉冲复合模型将SEMT脉冲转化为复合的SET脉冲并沿数据通路向下游传播;在脉冲......
[期刊论文] 作者：闫爱斌,梁华国,黄正峰,袁德冉,,
来源：电子测量与仪器学报 年份：2015
为了在集成电路的设计阶段进行软错误率的有效评估,建立了一种精确的单粒子瞬态故障概率模型与脉冲屏蔽模型,并提出一种基于故障概率的组合电路软错误率评估方法。通过门级仿...
[期刊论文] 作者：闫爱斌,梁华国,黄正峰,蒋翠云,,
来源：计算机辅助设计与图形学学报 年份：2015
工艺尺寸的降低导致组合电路对软错误的敏感性越发突出,由负偏置温度不稳定性(NBTI)效应引起的老化现象越发不容忽视.为了准确地评估集成电路在其生命周期不同阶段的软错误率,提出一种考虑NBTI效应的组合电路软错误率计算方法.首先通过对节点输出逻辑进行翻转来......
[期刊论文] 作者：闫爱斌,梁华国,许晓琳,袁德冉,,
来源：合肥工业大学学报(自然科学版) 年份：2016
为了准确评估集成电路的软错误率（soft error rate，SER），文章提出一种新颖的电路SER评估方法。通过门级仿真获得逻辑门输出信号，将产生瞬态故障的逻辑门进行故障注入，然后使用考虑......
[会议论文] 作者：闫爱斌,梁华国,黄正峰,蒋翠云,
来源：第八届全国测试学术会议 年份：2014
集成电路工艺水平的不断提高,使得组合逻辑电路对软错误的敏感性越发突出.为了在集成电路的设计阶段进行软错误率的准确评估,提出一种精确的单粒子瞬态屏蔽效应评估方法.该方法考虑了扇出重汇聚的影响,考虑了门单元输入引脚到达输出端的上升与下降延迟,并克服了......
[期刊论文] 作者：吴悠然,梁华国,王志,闫爱斌,黄正峰,,
来源：微电子学 年份：2015
随着集成电路工艺水平的不断提高、器件尺寸的不断缩小以及电源的不断降低,传统的锁存器越发容易受到由辐射效应引起的软错误影响。为了增强锁存器的可靠性,提出了一种适用于...
[期刊论文] 作者：黄正峰,申思远,彭小飞,闫爱斌,鲁迎春,,
来源：电子测量与仪器学报 年份：2015
随着集成电路工艺尺寸的不断降低,电路对空间辐射引起的单粒子效应越来越敏感。为了提高电路的可靠性,基于时间和空间冗余技术提出了一种高性能的容软错误锁存器DSH-CG。该锁...
[期刊论文] 作者：闫爱斌,梁华国,黄正峰,蒋翠云,易茂祥,,
来源：电子学报 年份：2016
集成电路工艺水平的提升,使得由单粒子瞬态脉冲造成的芯片失效越发不容忽视.为了准确计算单粒子瞬态脉冲对锁存器造成的失效率,提出一种考虑多时钟周期瞬态脉冲叠加的锁存窗...
[会议论文] 作者：闫爱斌[1]梁华国[2]黄正峰[2]蒋翠云[3],
来源：第八届全国测试学术会议 年份：2014
集成电路工艺水平的不断提高,使得组合逻辑电路对软错误的敏感性越发突出.为了在集成电路的设计阶段进行软错误率的准确评估,提出一种精确的单粒子瞬态屏蔽效应评估方法.该方...
[期刊论文] 作者：黄正峰,钱栋良,梁华国,易茂祥,欧阳一鸣,闫爱斌,,
来源：计算机辅助设计与图形学学报 年份：2016
随着工艺尺寸的缩减,单粒子引发的软错误成为威胁电路可靠性的重要原因.基于SMIC 65 nm CMOS工艺,提出一种单粒子加固锁存器设计.首先针对单粒子翻转,使用具有状态保持功能的...
[期刊论文] 作者：黄正峰,付俊超,欧阳一鸣,闫爱斌,梁华国,易茂祥,,
来源：微电子学 年份：2017
针对单粒子翻转(SEU)的问题,提出了一种容SEU的新型自恢复锁存器。采用1P-2N单元、输入分离的钟控反相器以及C单元,使得锁存器对SEU能够实现自恢复,可用于时钟门控电路。采用...
[期刊论文] 作者：欧阳一鸣,孙成龙,陈奇,梁华国,易茂祥,黄正峰,闫爱斌,,
来源：电子学报 年份：2016
三维片上网络通过硅通孔（Through Silicon Via,TSV）将多层芯片进行堆叠,具有集成密度大,通信效率高等特点,是片上多核系统的主流通信架构.然而,工艺偏差及物理缺陷所引发的错误...
[期刊论文] 作者：梁华国,孙红云,孙骏,黄正峰,徐秀敏,易茂祥,欧阳一鸣,鲁迎春,闫爱斌,,
来源：电子与信息学报 年份：2017
为了自动快速地分析微处理器对软错误的敏感性,该文提出一种基于FPGA故障注入的软错误敏感性分析方法。在FPGA芯片上同时运行有故障和无故障的两个微处理器,并充分利用FPGA的并行性,把故障注入控制、故障分类、故障列表等模块均在硬件上实现,自动快速地完成全部......
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