提出一种基于多扫描链测试集分组列相容的压缩方法,可以有效降低芯片测试数据量。该方法是将测试集按多扫描链结构排列之后,采用对......

在本文中,我们给出了两个局部凸可分离拓扑列相容的定义,并证明了有界集和在一定条件下凸的列闭集是列相容不变的。......

设(X,T)为局部凸空间且f∈X~#,则f为列连续当且仅当f-={x∈X:f(x)=0}为列闭.如此(X,T_1)~s=(X,T_2)~s当且仅当(X,T_1)和(X,T_2)具......