芯片测试相关论文
随着人们对集成电路品质的重视,集成电路测试业正成为集成电路产业中一个不可或缺的独立行业,其中封装测试是产品出厂前的最后测试,就......
该文针对一款兼容SMJ320C6701-SP的DSP芯片进行各项指标测试系统的设计,使用LabVIEW进行上位机的测试平台程序编写,实现了对DSP芯片......
阐述IP技术在集成电路设计中的应用,包括IP设计技术、半定制设计、全定制设计方法的应用,ASIC电路、模拟电路的设计,并不断完善集......
在信息时代,集成电路的重要性不言而喻,而集成电路行业面临着人才短缺的重大问题,亟需加大人才培养力度,对高校实践教学提出了更高......
从X射线脉冲星发现至今,科学家们并不满足于只对其进行观测,随着研究的深入,他们提出利用脉冲星进行人造卫星的定位和深空下飞行器......
芯片为信息技术、人工智能的发展提供有力的硬件支持,在智能生活、交通、医疗等领域被广泛应用。So C芯片是超大规模集成电路发展......
近几十年来,人类航天事业的高速发展对航天器内部集成电路的抗辐照性能提出了越来越高的要求。反熔丝PROM(Programmable Read Only ......
全球半导体产业发展的几十年中,芯片的测试成本一直占据芯片总成本中的很大比例。芯片测试成本主要是时间成本,如何有效地减少测试......
随着社会经济不断发展,人民生活水平及质量不断提高,汽车在国内家庭普及率逐年提升。汽车摄像头芯片是作为发展潮流中重要的汽车电......
文章在分析芯片测试一般测试系统方案的基础上,以Chroma 8000商用测试机为例,提出加入FPGA作为测试机和芯片通信的中间桥梁的测试......
期刊
芯片测试在集成电路生产过程中扮演着举足轻重的环节,一个优秀的测试方案可以显著缩短从设计到产品的时间。随着社会的发展,一种新......
物联网时代,三维技术对深度传感器的需求在不断上升,特别是在自动驾驶、虚拟现实、增强现实、机器人视觉、工厂自动化、人工智能等......
苏州中科集成电路设计中心选择安捷伦科技的芯片测试解决方案,包括安捷伦93000SOC系统单芯片测试方案和Versatest闪存测试和智能卡......
随着电子芯片的制作工艺越来越先进,SoC芯片结构愈加复杂,相应的SoC芯片的测试技术变得相对复杂。本文描述了SoC测试技术系统的结......
随着集成电路设计和制造技术的不断进步,大规模集成电路的快速发展。集成电路设计方法深化,给测试技术带来很大的挑战。芯片测试成......
本文对边界扫描测试技术及其在板级测试中的应用进行了研究。文章从工程应用的角度出发,设计开发了一种边界扫描测试系统。该系统由......
本文从模拟及混合信号电路的内建自测试方法入手,着重研究了伪随机测试技术及基于电流注入的测试方法,并在此基础上将两种方法结合起......
本文对并行VHDL模拟中故障诊断技术的实现进行了研究。文章介绍了并行VHDL模拟的基本原理并详细描述了时间偏差协议。针对并行VHDL......
数字信号处理器DSP(Digital Signal Processor)具有强大的数据处理能力和丰富的片内资源,在航空、军事、通信等多个领域得到广泛的......
随着网络时钟同步技术的更迭,提出了新的芯片时钟同步接口方案——SLTS(单线授时,Single Line Time Service),SLTS接口解决了原有......
随着国内外半导体行业的迅猛发展,芯片生产制造过程中芯片测试的重要性与日俱增,高效、低成本的测试方案和设备成了半导体行业中AT......
基于卷积神经网络的IC芯片图形缺陷检测方法,针对具有缺陷特征的图形图像样本集进行机器深度学习训练,可实现对IC芯片图形中如断线......
随着科技的发展,芯片的功能、可靠性和稳定性变得越来越重要,从而使得芯片测试越来越受到重视。低压差线性稳压器(Low Dropout Reg......
随着集成电路进入超深亚微米级,SoC技术的应用使得设计和制造成本大幅下降,SoC技术得到越来越广泛的应用。对SoC的研究越来越多,可重......
DSP是以数字信号来分析大量信息的一种先进的微处理器器件。其基本理论是将接收到的模拟信号转换为1或0的数字信号,然后对这个信号......
本文介绍CMOS图像传感器芯片测试用评估板的设计,该评估板是针对天津大学ASIC设计中心研制的CMOS图像传感器芯片而设计的。随着CMO......
早期的集成电路测试主要通过功能测试向量来完成,但随着系统复杂度的不断提高和工艺技术的日益发展,芯片测试的复杂度远远超出了人......
微传感器是采用微米级的微电子和微机械加工制造技术制作而成的新型传感器,它具有体积小、重量轻、功能多、可靠性高以及易于实现......
文章介绍了一个用于数字电视信道接收芯片测试的平台,论述了系统组成、硬件构成、软件流程及主机和从机之间的通信协议。
This pa......
论文介绍了一种通过对集成电路测试系统芯片测试过程中的电气参数进行测量的方式分析得到集成电路测试系统的指标准确度,从而实现对......
利用J750测试机台IG-XL开发环境,充分利用J750的数字信号给定和电压电流测量功能及PXI的射频信号收发功能,开发出一套适用于射频芯......
针对EDA实验中缺乏有效的分析环境,提出了基于ChipScope的EDA实验平台设计方案,通过设计EDA硬件实验平台,结合Xilinx公司提供的Chi......
片上网络是一种新兴的大规模集成电路的设计方法.片上网络的测试包括对内核、路由器和通信通道的测试.本文主要提出了一种新的片上......
上海华虹宏力半导体制造有限公司(以下简称“上海华虹宏力”)成立于2013年,由原承担国家“909工程”的上海华虹NEC电子有限公司与上海......
[摘要]自从20世纪中叶以来,电子产业,尤其是半导体产业得到了飞快的发展。基于摩尔定律的描述,集成电路的集成度在不断上升,同时特征尺......
文章介绍了存储器测试的重要性与FPGA测试系统的优势,分析了存储器常见的几种故障模型和存储器测试算法。通过XILINX FPGA芯片搭建......
芯片逻辑功能测试成本随芯片复杂度成倍增加.为了提高测试的速度和准确度,使用一套自动化程度高的测试系统是芯片测试行业的趋势.......
液晶屏显示驱动芯片测试环节贯穿在显示驱动芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于测试系统需要匹配......
设计一种基于微处理器嵌入结构的数字集成电路测试系统;该系统在保留了传统数字集成电路测试系统使用的布尔差分算法的基础上,将布......
介绍了虚拟字符设备驱动在专用数据处理系统中的应用,给出了处理器MPC8347通过CPLD对其他芯片进行控制的硬件连接设计,以及系统软......
江苏长电科技股份有限公司(下称长电科技)是集成电路封测产业链技术创新战略联盟理事长单位,中国领先的半导体封装测试生产基地,为客......
基于图形化编程语言LabVIEW,设计了一种芯片测试平台,并详细介绍了其系统结构、功能以及设计中用到的相关技术,包括仪器的控制、事件......
提出了一种运用混合信号的温湿度测量控制电路的设计方案.通过温湿度传感器的电阻变化来检测温湿度的变化,运用RC振荡原理,把传感......