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本文报告了一种新型电子工业清洗工艺，用该工艺清洗过的硅片上的钠残留量低于常规ｃｍｏｓ／ｓｏｓ栅氧化工艺，去重金属离子的能力及对器件参数的影响......
当CMOS工艺发展到深亚微米阶段,传统的二氧化硅栅氧介质已经接近其物理极限。为减少栅氧化层的隧穿电流,提高其对硼的阻挡能力,势......
