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氧化层厚度效应相关论文
开态热载流子应力下的n-MOSFETs的氧化层厚度效应
在最大衬底电流条件下(Vg=Vd/2),研究了不同氧化层厚度的表面沟道n-MOSFETs在热载流子应力下的退化.结果表明, Hu的寿命预测模型的......
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HCI
热载流子效应
氧化层厚度效应
寿命预测模型
器件可靠性
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