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针对混合信号电路的测试问题，提出了一种内建自测试（BIST）结构，分析并给出了如何利用该结构来计算片上高速模数转换器（ADC）的静态参数．该......
针对混合信号电路内建自测试（BIST）结构中信号发生器的设计问题，本文提出了一种基于码密度直方图法测量模一数转换器性能的片上模拟三......
随着我国电子信息技术水平在国际领域的不断提高,在面临来自美国等电子设计领域强国的频繁挑衅背景下,近年来,我国在集成电路设计......
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随着ADC测试技术的不断发展,码密度直方图技术以及采用正弦波输入的离散傅里叶变换（DFT）频域分析技术已经被广泛应用到ADC的仿真和测......
