混合信号测试相关论文
【摘 要】随着半导体制造和信息技术等相关高科技产业技术的日趋成熟，在一个芯片上几乎可以包含一个完整的系统（SOC）。客户对IC芯片的......
随着经济社会的发展,人们对消费类电子的多媒体功能要求越来越高,具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中.通讯领......
1 前言具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中.通讯领域的MODEM、CODEC和飞速发展的手机芯片,视频处理器领域的MP......
简要介绍了清华大学微电子研究所设计的用于WLAN(802.11b)基带处理器芯片组的高速ADC及DAC,以及爱德万测试如何使用WVFG/WVFD实现......
简要介绍了混合信号测试总线IEEE1149 4标准和KLIC混合信号总线测试用的实验芯片。使用本研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对......
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针对混合信号电路内建自测试（BIST）结构中信号发生器的设计问题，本文提出了一种基于码密度直方图法测量模一数转换器性能的片上模拟三......
随着集成电路工艺的进步和人们对集成电路性能以及上市时间要求不断提高,集成电路技术发展到了系统级芯片(System-on-Chip,SoC)。......
随着芯片规模的不断扩大,设计和制造过程中所产生的各种问题都导致芯片测试的难度和成本越来越高,传统的测试模型和测试方法显得难......
在LCD TV专案开发阶段,运行程序如下,液晶电视系统规格→电视系统芯片组选择→电路设计→PCB layout→原形试作→电子信号测量→测......
1前言随着半导体科技的进步,我们已经可以把越来越多的电路设计在同一个芯片中,这里面可能包含有中央处理器(CPU)、嵌入式内存(Emb......
随着经济社会的发展,人们对消费类电子的多媒体功能要求越来越高,具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中。通讯领......
高速A/D被广泛应用于无线通讯、制动控制、自动检测等领域。如何准确评估高速A/D的性能受到高度关注。要准确测试高速AD对测试环境......
随着半导体制造和信息技术等相关高科技产业技术的日趋成熟,在一个芯片上几乎可以包含一个完整的系统(SOC)。客户对IC芯片的质量也......
随着集成电路设计与加工技术的飞速发展,集成电路复杂程度不断提高,而其尺寸却在不断缩小,超大规模集成电路(VLSI)的测试已经成为......
ATE集成电路测试仪在集成电路设计和制造中占有相当重要的地位,传统的数字集成电路测试面对含有模拟和数字混合信号的测试往往显得......
随着集成电路设计进入超深亚微米阶段,电路复杂度不断提高,芯片测试面临着巨大的挑战。内建自测试BIST(Built-in self-test)技术通......
随着芯片规模的不断扩大,设计和制造过程中所产生的各种问题都导致芯片测试的难度和成本越来越高,传统的测试模型和测试方法显得难......
本文对摩托罗拉MA900797汽车气囊控制芯片的测试进行研究。该芯片作为汽车气囊电路系统的一部分,控制气囊弹射,具有内部自动检查功......
