SOC测试结构研究是当今可测性设计研究领域内的重要课题。SOC内部集成了中央处理器内核、储存单元、通信接口、内部总线以及特定功......

随着集成电路技术以及芯片制造工艺的高速发展，在CPU内部嵌入调试功能模块的片上调试技术(On-hip Debugging)应用越来越广泛。在进......

当前，SoC设计领域的竞争日趋激烈。开发自主的处理器核、核心IP以及总线架构，将使我国的SoC发展更具竞争力。国内不少研究所和高校都......

随着集成电路(Integrated Circuit,IC)工艺规模的越来越小和芯片集成规模越来越庞大,集成电路的设计技术得到了迅速的发展。随着集......

讨论了建立基于JTAG控制器Net-1149.1的测试系统模型的基本方法和系统结构.介绍了测试环境软硬件平台的建立及在测试主机上的软件......

随着片上系统(SOC,System On Chip)时代的到来,包括复杂可编程逻辑器件(CPLD,Complex Programmable Logic Device)和现场可编程门......

复杂可编程逻辑器件(Complex Programmable Logic Device,CPLD)是一种可以按照用户特定需求进行电路逻辑功能设计的器件。CPLD器件......