边界扫描相关论文
随着技术的发展，新装备中大规模集成电路的应用越来越广泛，边界扫描测试（JTAG测试）的功能逐渐强大和完善，已成为国际上通用的电路板测试......
BIT（build-in test）即内建测试,是一种可以让设备进行自检测的机制,也是可测试性设计的一种实现技术。内建自测试系统的目的主要是简......
随着电路板集成度的不断提高,传统测试方法已经难以满足高密度电路板的测试需求,边界扫描技术的出现为解决高密度电路板的测试问题......
随着集成电路及微电子技术的发展,集成电路芯片作为信息的载体应用在各种领域。集成电路芯片测试包括功能、性能、可靠性及安全性......
在电子产品小型化的进化压力之下，表面贴装技术（SMT）开始逐渐取代插孔式安装技术。电路板上安装的器件变得越来越小，而板上单位面积所......
随着集成电路设计和制造水平的不断提高,测试面临着越来越多的困难,可测性设计(DFT)成为解决测试问题的主要手段。其中,内建自测试......
随着集成电路制造工艺的不断进步、工作频率的不断提高，片上系统内核间的串扰测试问题已不容轻视，同时系统设计从之前的简单电路板向......
目前,系统芯片(SoC)的设计是由嵌入式IP核组成。其中,嵌入式IP核包含有数字IP核、模拟IP核及数模混合IP核。在数模混合IP核中不仅......
该文在分析边界扫描测试技术的基本原理及IEEE1149.1标准的基础上,提出并讨论了一种基于微机的边界扫描测试仪器的设计方案.完成了......
随着电子技术的发展,我国雷达装备系统得到了不断的发展,走上了电子化、信息化的现代化道路,但是随着雷达功能的不断扩充和发展,自......
随着集成电路设计和制造技术的不断进步，芯片的集成度和复杂度也以惊人的速度发展。芯片测试遇到了前所未有的挑战，测试费用越来越高......
本文对边界扫描测试技术及其在板级测试中的应用进行了研究。文章从工程应用的角度出发，设计开发了一种边界扫描测试系统。该系统由......
随着电路技术进入超大规模集成(VLSI)时代，系统复杂度的不断提高和工艺技术的持续发展都使得电路节点的物理可访问性正逐步被削弱，测......
由于嵌入式系统应用的不断增长和复杂性的不断提高,嵌入式系统的调试便成为开发过程中不可缺少的辅助手段。基于ARM体系结构的处理......
当电路模块利用传统的测试方法，如示波器、逻辑分析仪及在线测试仪等无法访问待测试信号时，边界扫描技术则对电路模块的完整性提......
早期的集成电路测试主要通过功能测试向量来完成，但随着系统复杂度的不断提高和工艺技术的日益发展，可测性设计已经成为了集成电路设......
随着集成电路设计和制造技术的不断进步,芯片的集成度和复杂度也以惊人的速度发展。芯片测试遇到了前所未有的挑战,测试费用越来越......
该文人增强系统的自测试功能方面阐述了保证计算机测控系统可靠性等全寿命周期指标的理论依据和方法.该文详细论述了自测试技术对......
随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。传统的测试方法已经很难满足新的测试要求,尤其是混......
随着大规模及超大规模集成电路的发展,电子系统及其装备朝着高密度、微型化方向快速发展,器件安装密度骤增,间距锐减,器件结构和功......
随着电子技术的飞速发展、电路集成度的提高以及芯片功能更加复杂,传统的测试方法不能满足测试需要。边界扫描测试技术提供了一种......
随着微电子技术的飞速发展,集成电路的复杂度和集成度不断提高,传统的测试方法已经很难满足新的测试要求,尤其是混合电路的广泛应......
学位
边界扫描技术的提出给集成电路的测试带来极大方便,但由于边界扫描测试矢量具有串行移位特点,且集成电路随着半导体技术的发展变得......
随着芯片一体化进程的加速以及对功耗控制的关注日益增加,边界扫描技术面临新的挑战,这些挑战来源于调试、测试、应用等方面。紧凑......
边界扫描测试技术,凭借自身特点,已经成为当今最主流测试方法之一。边界扫描测试系统的编译模块,为测试矢量生成提供数据依据,是该......
随着计算机技术和微电子技术的不断发展,组装工艺不断更新,集成电路的集成度和复杂度不断提高,传统的测试方法越来越难以满足要求,......
电子线路在使用过程中发生故障是不可避免的。对于发生故障的电路板，我们总是想尽办法来找出它的故障所在。随着电子系统日趋复杂，传......
边界扫描技术（JTAG）已在集成电路的可测性设计与故障诊断领域被广泛使用了二十多年，并发挥着重要作用。针对如今测试时需要精简引脚并......
半导体技术的进步使得在单个芯片上集成数以百万计的门电路成为可能，基于IP(IntellectualProperty)核复用的SOC(SystemOnaChip)设计......
论文主要介绍了基于边界扫描技术的电网故障录波器行波测距卡的设计与实现。行波测距卡是电网故障录波器中的信号采集单元,在电网......
JTAG为SoC芯片的系统测试和片上调试提供了行之有效的方法,然而也造成了安全隐患。国内外研究人员提出了多种安全防护措施,但在安......
系统级嵌入式测试技术主要包括边界扫描测试技术和MTM维修总线技术。它是一种高效、便捷的测试技术,能使得军事装备机内自测试能力......
研制边界扫描原先是为了检验IC引线与PCB连接轨迹,现在它已被用于支持芯片调试、设备编程、混合信号测试和现场服务.......
现代集成电路安装了IEEE 1149.1边界扫描电路,以增强信号测试.然而,芯片的速度和尺寸不断增加,导致我们在实施带有可预测计时的功......
针对边界扫描结构设计中的双向端口,提出一种新颖的解决方法。该方法通过设计一个专用的双向边界扫描单元,实现对双向端口的可观及......
随着SOC系统的快速发展,如何对其进行有效的测试与诊断是当前研究的热点问题。从SOC数字电路可测试性设计的角度出发,基于边界扫描......
DRAM芯片空间都是由行(Column)地址数、列(Row)地址数、Bank数、片选(CS-Chip Select)组合成地址空间来实现数据存储,不同容量或者......
IEEE1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法,在边界扫描测试过程中,生成合理的测试向量集是有效应用边界扫......
根据数据域测试及仪器课程教学的特点和需要,设计了一个典型的边界扫描测试系统作为课程实验.实验系统主要由计算机、USB-1149控制......
期刊
本文介绍了边界扫描技术的工作原理,论述了基于边界扫描技术的电路板可测性设计在信号链路以及信号接口方面需要重点考虑的一些问......
研究雷达机内自测试BIT（builtintest）的实现及雷达系统级测试．依据结构可测性设计方法，采用可编程逻辑器件设计电路板级测试单元，把芯片......
【摘 要】边界扫描技术是一种新型的测试技术，对于电路板上的引脚，互连进行了相互的测试。解决了大规模集成电路之间的测试问题，提高......
在对边界扫描及簇测试技术研究的基础上,以边界扫描测试总线控制器芯片为核心设计实现了一个簇测试系统,选择W-A的GNS算法对所设计......
