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采用X射线衍射仪(XRD)和俄歇电子能谱仪(AES)研究了铜薄膜的晶体学取向和Ta扩散阻挡层的阻挡效果.结果表明,Ta阻挡层能够促使铜薄......
本文对物理气相淀积在SiO2上制备的Cu(200nm)/Ta(25nm)/SiO2体系中Cu热扩散失效机理进行了研究、用等离子体浸没注入(PⅢ)N+和C+对......