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A-V方法相关论文

利用正向电压下的导纳检测半导体二极管的新方法

提出了一种利用正向电压下的导纳-电压(A-V)特性检测半导体二极管的非破坏性新方法,并给出了它的一般分析.利用这种方法,可以判断......

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半导体二极管导纳正向电压非破坏性检测 A-V方法串联电阻结电容结电压 semiconductor diodes admittance forwa

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