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近年来，随着信息化武器装备复杂度的增加和现场级快速测试诊断需求的增加，迫切需要基于边界扫描的BIST技术；在这种应用模式中，基于......
随着片上系统(SOC)设计复杂度的增加,以及模拟电路自身的复杂性,测试变得更加困难,因此研究模数混合信号电路的内建自测试具有重要......
该文的研究内容为ME运算阵列内建自测试研究.该文首先对BIST技术进行了研究.在对BIST原理的分析中,重点讨论了测试码生成和响应分......
FPGA市场已经进入极速发展时代，不同的销售商已向市场投入更多更快的FPGA器件。本文重点介绍了动态重构FPGA及其基本结构、特点；在此......
随着集成电路的设计和制造工艺的迅速发展,尤其是多芯片组件(MCM)、高密度板上系统(SoB)和片上系统(SoC)等的出现,混合信号电路的......
随着深亚微米技术的出现和集成电路制造工艺的进步，集成电路从超大规模集成电路阶段发展成为片上系统（SoC）与片上网络（NoC）阶段。SoC设......
目前应用最多的存储器就是嵌入式存储器,这一类型的存储器在长期的发展进程中,规模和容量逐渐扩大,这就使得针对存储器的测试时间......
<正> 目前,绝大多数集成电路(IC)都设计有嵌入式存储器,IC的复杂化要求对它进行比传统的合格/不合格更深入一步的测试。随着IC几何......
