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CiCs缺陷相关论文

Si1-xGex合金半导体中CiCs和CiOi缺陷随Ge含量的变化

采用从头计算(ab initio)的方法对Si和Si1-xGex合金半导体材料中CiCs 缺陷的性质进行探讨,同时也对比调查了CiOi 缺陷在Si和Si1-xG......

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Si1-xGex合金从头计算法 CiCs缺陷 CiOi缺陷

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