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基于GaAs背孔工艺监控研究
在GaAs背孔工艺制作中,通孔良率影响着后续溅镀、电镀金属层与正面金属互联,在该道关键制程中缺乏有效的监控方法。在背孔工艺中,......
期刊
砷化镓
背孔
良率
监控
ICP蚀刻
GaAs
dorsal foramen
yield
monitor
ICP etching
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