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MIS结构C-t相关论文

MIS结构C-t过程的动力学分析及少数载流子产生寿命空间分布测量

本文对MIS结构的C-t过程作了动力学分析.结果表明:一般情况下,界面态只在界面的耗尽和半导体表面反型的过程中对C-t特性有不可忽视......

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少数载流子 MIS结构C-t 动力学分析少子界面态密度半导体表面强反型表面层分布测量反型层

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