X射线反射率相关论文
本文以具有不同电子密度的聚电解质自组装成膜,用XRR表征一系列薄膜的结构.研究结果表明,XRR是薄膜结构研究的有效方法,它不仅提供......
A fine layer structure in the Ni/C multilayer (3-4 nm/6-7 nm) is deposited by magnetic sputtering by combining soft X-ra......
通过蒸发诱导自组装技术制备了具有不同有序结构的介孔SiO2薄膜,并采用同步辐射X射线反射率以及慢正电子束流技术对其进行表征.实......
Ｘ射线干涉测量技术是以非常稳定的亚纳米量级的硅单晶的晶格作为基本长度单位，以建立纳米级长度基准，从而实现纳米级精度的测量、校验......
Synchrontron radiation x-ray reflectivity measurement is used to study the concentration profile of a δ-doped Er layer ......
在固体基底表面上，液体可以表现出不同的浸润性．若完全浸润，液体会铺展成膜；若部分浸润或不浸润，液体则会聚集成团．和上述经典的浸润行为......
用静电自组装技术制备了不同层数的Au纳米颗粒-聚电解质多层膜, 用X射线反射及原子力显微镜对膜的微结构进行了表征. 研究发现, 当......
利用激光分子束外延（L-MBE）技术在α-Al2O3（0001）衬底上生长出了沿C轴高度择优取向的ZnO外延薄膜，并采用Philips四晶高分辨X射线衍射仪（P......
利用同步辐射Ｘ射线对Ｃｒ／ＳｉＯ２系统进行了反射率测量。得到了信噪比非常好的反射率曲线，通过对实验数据进行傅立叶变换和最小二乘法拟合得到了......
