一次性可编程存储器相关论文
随着工艺尺寸的不断减小,常压MOS管较低的击穿电压成为一次性可编程(OTP)存储器编程设计中的主要制约因素.文中提出了一种OTP存储......
在OTP存储器设计中,随着存储器容量的不断加大,位线负载也相应变大,可能导致读机制失效。为了防止发生读机制失效,需增加灵敏放大......