用X 射线光电子能谱(XPS)测定了一系列厚度准确已知的硅晶片上的超薄(1.45 nm＜d＜7.2 nm)氧化硅膜的Si 2p 电子能谱和价带谱.结果......

本文介绍了用XPS技术研究反应溅射制备的VOx薄膜;结果表明该方法制备的VOx薄膜大多是不同价态的混合物,其物相、成分与氧分压密切......

本文研究取代环戊二烯钛,锆,铪络合物的XPS及其价带谱。分析了在环戊二烯配体上,甲基,乙基,丙基……等取代基在其内壳谱上产生的戏......

酞菁铜(CuPc)作为染料和光导材料又在仿生学中具有重要意义,不同晶型的CuPc其性能各异。本支报道α、β、γ、χ不同晶型CuPc的X......

用MOCVD方法在Al2O3衬底c面生长ZnO薄膜, 用XPS对薄膜进行了测量.结果显示, 与O1s和Zn2p态相比, Zn3d态有更大的化学位移, 可用于......