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利用透射电子显微镜(TEM)详细分析了不同剂量的质子辐照纯铝薄膜样品的微观结构,质子的能量E=160keV.实验表明,质子辐照能够在Al薄......
采用透射电镜(TEM)定位观察了室温单晶硅显微压痕表面的微观信息.发现了为数不少的位错圈、堆垛层错、扩展位错及压杆位错、位错偶......
本文分析了辐照温度对辐照效应的影响。发现各种铝材在温度高于200℃辐照时都不呈现辐照损伤,而在低于100℃时辐照损伤是严重的。......
