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探计了以增设冗余单元来提高在役生命线网络系统的抗震可靠性。通过对可增设单元进行重要度分析、并考虑地震环境下的失效相关性，讨......
为了适应DRAM（DynamicRandomAccessMemory，动态随机存储器）芯片设计中冗余单元分布的不规则性以及DRAM失效单元的修复需求，最大限度地......
随着VLSI芯片面积的增加和电路复杂性的增强,芯片的成品率受制造缺陷影响的概率逐渐增加。为了解决这一问题,人们将容错技术结合入......
本文对集成电路制造过程中的缺陷空间分布模型和IC的容错结构及其成品率做了系统地理论研究。主要研究结果如下： 根据缺陷在圆片......
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