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在宽的输入偏置电流范围条件下, 开展了光电耦合器件低频噪声特性测试与功率老化和高温老化的可靠性试验研究。结果表明, 光电耦合......
在可靠性筛选中检测具有潜在损伤的器件一直是个难题.对GaA lAs红外发光二极管(IRLED)功率老化前后低频噪声的测量发现,1/f噪声幅......
随着场效应管器件在电子设备的应用越来越广泛,而相关的测试和筛选需求也在相应增加,针对目前本实验室在场效应管器件筛选过程中不......
通过分析MOS管结温对器件可靠性的重要性,指出现有老化方法在试验过程中未能达到最高允许结温,老化不充分的问题;提出了一种测试过......
从膜电阻图形的最小宽度出发,给出了设计、调整矩形和帽形膜电阻的计算公式。在工程应用范围内,理论计算与实验结果相当一致。......
