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原子-腔模拉曼相关论文
电子束辐照对Poly-SiO2/Si结构平带电压的影响
利用剂量为1013 cm~1016 cm-2,能量为0.4 Mev~1.8 Mev的电子束辐照Poly-SiO2/Si结构,对辐照后样品进行了C-V特性曲线测试.测试结果表......
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原子-腔模拉曼
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聚硅烷
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