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多晶电容相关论文
CMOS多晶电容工艺误差分析及设计研究
研究分析了CMOS多晶电容的工艺误差,给出了氧化硅介质层厚度的梯度误差、边际效应等工艺因素对CMOS多晶电容的影响.基于单位电容的......
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多晶电容
CMOS
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Poly-silicon capacitor
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