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电子产品各个组件间的热膨胀系数(CTE)不匹配是导致焊料蠕变和焊点热疲劳开裂的根本原因.为了研究底部填充工艺对改善球栅阵列封装......
运用TDDB理论,研究分析了G aA s MM IC的M IM氮化硅电容的导电特性和击穿特性,设计制作了三种对比分析的G aA s MM IC的M IM氮化硅......
本文综述了作者在金属结构日历寿命预计方面的研究新成果。它包括:金属结构翻修期和总日历寿命的预计模型;找到金属和它的防护层都......
为了建立以可靠性为中心维修思想下的机械设备维修体制,在已有可靠性性能劣化模型的基础上,分析了大修周期与可靠性的关系,结合产......
本文围绕钢圈多轴疲劳寿命预计问题，通过对钢圈上测点应变花数据的测取和计算，确定测点处于多轴应力状态；基于多轴疲劳损伤的临界平面......
据中国国防科技信息网2012年9月3日消息，俄罗斯正在规划未来4年内发射2个太空实验室。其中一个太空实验室波普-RG（Spektr—RG），用于观......
总结了电子产品在力、热、电单一应力作用下的失效机理模型,结合电子产品在典型工况条件下的仿真技术,利用多应力综合作用的累积损......
设计一款应用于三相交流接触器的智能模块,以STM32单片机为主控芯片,通过采集主回路电流信号、线圈电流信号、主触点温度以及环境......
焊点蠕变疲劳是电子产品破坏中一种最主要的形式,对焊点疲劳寿命的量化评价是电子产品可靠性分析中的关键环节。总结了IPC标准中的......
金属薄膜电容由于具有良好的自愈性应用广泛,文章主要从介绍传统的理论寿命计算公式入手,分析如何更为精确有效地构建加速老化的试......
主要将温度和放电电流作为寿命衰降的主要因素,运用阿列尼乌斯公式,以10 Ah电池寿命数据为基础,拟合了锂离子电池的寿命模型,并通......
在QFN器件组装后的可靠性试验或者在其使用过程中,焊点内部蠕变和应力释放会使得晶粒逐渐地粗化而出现微裂纹,这是导致焊点可靠性......
本文根据工程应用对光纤陀螺仪高可靠性的要求,介绍了光纤陀螺仪平均无故障工作时间(MTBF)的预计方法、光纤陀螺仪的寿命预计模型......
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文中介绍了一种基于Arrhenius温度加速模型双电层电容寿命评估方法,通过双电层电容寿命影响因素分析,设计两组高温恒压加速寿命试......
分析了MTTF、失效率与寿命三者之间的关系,并采用Weibull分布失效率分段建模浴盆曲线,通过最小二乘法、相关系数法对Weibull分布参......
随着多电飞机电气化程度的不断提高与机载用电设备的日益复杂,多路输出隔离直流电源的需求不断增加。传统的多路输出隔离直流电源......
随着载人空间站长寿命需求的提出,对电连接器结露性能提出更高要求,本文选取国产两个系列矩形电连接器典型规格,按照宇航结露试验......
