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利用广角X射线衍射仪，采用单线傅氏线形精炼分析法，研究不同制备方法及不同处理条件的纳米晶体的晶粒大小和微观畸变.......
等离子增强化学沉积生长的纳米硅薄膜是由纳米级尺寸的晶粒和晶界组成的厚度极薄的薄膜,采用X射线薄膜衍射法即X射线以低掠射角(1&......
对工业纯锆进行了不同时间的机械研磨处理(SMAT),利用透射电子显微镜(TEM)和X射线衍射仪(XRD)对试样表层平均晶粒尺寸和平均微观畸......
讨论了引起X衍射线形宽化的几种因素 ,以及材料中晶粒尺寸的大小、微观畸变与X衍射线形的关系 ,有助于材料工作者在材料性能方面的......
