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界面陷阱分布相关论文

复合栅控二极管新技术提取热载流子诱生的NMOS/SOI器件界面陷阱的横向分布

提出了用复合栅控二极管新技术提取MOS/SOI器件界面陷阱沿沟道横向分布的原理,给出了具体的测试步骤和方法.在此基础上,对具有体接......

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SOI技术 MOS器件界面陷阱分布热载流子效应复合栅控二极管技术

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