筒镜分析器相关论文
一、前言现代科学技术的发展,要求了解并研究材料表面薄层的信息。现代表面测试分析技术作为材料测试分析的一个新领域,近年来国......
材料微观结构的不均匀性往往对材料性质产生重大影响,例如杂质或(和)合金元素向界面(如自由表面,晶界等)狭窄区域偏聚,使韧性材料......
一、引言球面栅作为阻滞型能量分析器,在早期的逆电位型俄歇电子谱仪(AES)中曾起过重要作用。尽管当前的俄歇电子谱仪中都采用了......
由于工业技术对金属材料不断提出新的要求,人们需要更加深入细致地研究金属与合金的本质。相应地,作为研究金属材料的最基本、应......
RIBER 公司从事于超高真空系统领域的工作已历20余年。今天,它的产品范围包括超高真空系统,分子束外延系统,表面和界面分析系统(S......
本文所讨论的复合板筒镜电子能量分析器,和通用的筒镜分析器一样,具有二级聚焦和传输率高的优点.其主要特点是:当一次入射束垂直入......
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为了适应表面和界面分析的需要,我所在1983年进口一台美国珀金—埃尔默公司(Perking—Elmet)物理电子部出品的 PHI 595MULTIPROBE......
一、引言俄歇效应(Auger Effect)是法斟物理学家 Auger在1923年用 X 射线研究光电效应时发现并作出解释的。由于科学家研究的兴趣......
1.前言当前,作为表面研究手段的俄歇电子谱仪已经确定了牢固的地位。光电子谱法与质谱法的谱线可分别表示为能量分布E—N(E)关系......
近年来筒镜电子能量分析器广泛应用于俄歇电子能谱仪和光电子能谱仪。这种静电聚焦型分析器是由内外两个同轴圆筒组成的(见图1)。......
本文用俄歇电子谱仪和X射线光电子谱仪研究了氧化物阴极在分解激活过程中表面、基底和涂层交界面的化学成分、化学态以及基底中的......
一、引言 俄歇电子能谱仪(以下简称俄歇谱仪)是本世纪六十年代末出现的表面分析仪器。主要用于表面几个原子层内组成元素的定性、......
这里介绍一种新的电子能量分析器-板筒复合镜电子能量分析器(PCMA),与目前通用的筒镜分析器CMA一样,具有二级聚焦和传输率高的优......
自七十年代起,俄歇电子谱仪(Auger Electron SPectroscoPy)已逐渐成为十分广泛使用的表面组分分析手段。在基础科学研究和在应用......
最近十年来,固体表面分析技术得到迅速发展。这一方面是由于六十年代以来,超高真空技术的重大进展,比较容易获得10~(10)托的超高......
Zr是一种很重要的金属,有很强的吸附能力,但对其表面性能的研究至今还很少报导,可能是不容易得到好的单晶样品和清洁的表面。Moor......
引言筒镜分析器(CMA)具有很高的透过率,可提供高信噪比的信息。因此,在现代俄歇电子能谱仪(AES)中得到了广泛的应用。然而,不仅如......
本工作主要研究了超高真空环境中(6.7×10~(18)Pa)多晶Al、Mo、Cu表面在3keV能量电子束的轰击下,表面化学态的变化。利用AES(俄歇......
铜铍合金为打拿极的 Allen 型电子倍增器,作为一个可检测微弱电子流与离子流的器件,已广泛应用于质谱仪、俄歇电子谱仪等装置中。......
一、引 言 俄歇电子能谱和光电子能谱结合离子束刻蚀逐层检测,可以获得剖面分布曲线.一般说来,这样做的结果只能得到信号-时间(t)......
陶瓷环高阻膜作为简镜分析器避免边缘电场效应的重要部件，其质量对电子能量分析器的性能有很大影响，本文介绍了在陶瓷环上采用适当地......
本工作主要研究了超高真空环境中(5×10<sup>-10</sup>Torr)多晶Al、Mo、Cu表面在3keV电子束轰击下,表面组份的变化。通过检测......
<正> 筒镜分析器(CMA)是俄歇电子能谱(AES)装置或AES同X射线光电子能谱(XPS或称ESCA)联合装置的关键部件。本文以ESCA/SAM550电子......
