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随着电子科学技术的飞速发展,超大规模集成电路(VLSI)芯片越来越多的被应用于各种电子产品中。这种电路芯片诸如Altera公司的大多......
在对边界扫描及簇测试技术研究的基础上,以边界扫描测试总线控制器芯片为核心设计实现了一个簇测试系统,选择W-A的GNS算法对所设计......
由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的混合技术电路板将在今后相当长时间内广泛存在 ,板中由非边界扫描器件组成的簇的测试是边界......
在边界扫描测试技术中,由BS器件和非BS器件主成的逻辑簇测试是研究的难点问题,文章介绍了高效、简明、移植性好的TCL语言.在深入研......
由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的混合技术电路板将在今后相当长时间内广泛存在，析台由非边界扫描器件组成的簇的测试是边界扫......
为检测以超大规模集成电路为核心的电子设备,设计了基于边界扫描技术的电路测试系统。对超大规模集成电路进行板级测试,并提出在互......
针对电路板边界扫描测试中簇测试时间较长、测试效率较低问题,以并行测试思想为基础,提出了一种簇测试置入方案--交迭置入方案,并......
板级边界扫描测试技术,也就是IEEE-1149.1标准在电子行业得到了广泛的认可。对于一个特定的电路设计项目,为了实现最高的测试覆盖......
