过电应力相关论文
器件测试是发现集成电路潜在缺陷的关键步骤，但由于操作不当，也有可能引入新的失效。通过一个典型的失效案例，分析了器件测试过程中操......
当前随着我国电子行业的不断发展,集成电路短路失效引起了人们的重点关注,过电应力极容易造成CMOS集成电路短路失效,其中,导电通路......
电子元器件的失效往往与其承受的电应力是紧密相关的,降低其承受的电应力可以提高其使用可靠性。通过某型微波组件过电应力来源排......
对过电应力引起的CMOS集成电路的开短路失效模式。从电路结构、导电通路、误操作等方面进行了失效原因探讨。列举了一些过电应力的......
对不同大功率LED芯片进行单次脉冲浪涌冲击,对比不同大功率LED芯片在相同浪涌波形下的抗过电应力能力.实验共测试5款LED产品,发现......
会议
对一种集成稳压器的失效问题进行了研究并分析了失效机理。通过内部目检、微光分析、扫描电镜及能谱分析,定位了集成稳压器的失效......
在塑封IC器件中,封装分层往往会产生电和封装的可靠性问题.由过电应力(EOS)和再流焊中的水汽膨胀引起的分层会显示出不同的失效模......
