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随着器件尺寸的不断减小 ,直接隧穿电流将代替 FN电流而成为影响器件可靠性的主要因素 .数值求解的结果表明 :镜像势引起的势垒降......
基于Vlkulov等人对金属／多孔硅／硅结构输运特性的研究，分析了载流子在金属／多孔硅／硅结构中的输运过程，研究了各层中电场强度以及电压的......
