集成电路测试系统相关论文
本文主要探讨A／D转换器的静态参数测试方法，并基于ASL3000集成电路测试系统完成对A/D转换器电路的静态参数测试。实践表明，这种测试方......
在高速集成电路测试应用中，当集成电路测试系统驱动或测量某一信号时，其驱动沿或比较沿与预期时间产生1ns 的偏差都将导致整个测试时......
1、简介rn《VXI数模混合集成电路测试系统》的开发,对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义.......
本文介绍了数字集成电路测试系统的工作原理,提出了两种AC参数的定量测试方法：二分步长测试和on the fly测试。通过预先设置驱动/比......
恩浦科技有限公司(NPTest)和北京微电子技术研究所宣布双方建立高端CPU/SOC测试战略合作伙伴关系.恩浦科技有限公司的EXA3000超大......
根据不完全的统计,从1980年代开始集成电路的工艺快速更新换代,集成度按摩尔定律每18个月增加一倍,此增长势头将会延续至2010年.相......
数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目(VXI数模混合集成电路......
利用集成电路测试系统,可以完成小于1m V和1m A的直流电压和电流的测试。而想要确保测量值准确可靠,还要使用相应的校准技术进行微......
近年来，半导体工业正在经历一些重要的变化。这些变化的源头就是基础材料的进步，其标志是跨入了毫微技术领域，其结果是我们进入了一个......
简单论述了边缘扫描测试技术,详述了研制的网络化边缘扫描测试系统的构建方法。针对测试系统的实际应用进行了说明。......
本文主要展示了集成电路测试系统软件的基本功能及其核心部分的实现方法。先介绍了集成电路测试系统硬件的建模方法,然后在硬件建......
本文结合集成电路测试系统时间参数测试能力比对,对比对过程中所采用的标准和测试方法、被测件的制备及其稳定性考核、比对实施方......
手机、电脑、互联网已是现代生活中不可或缺的重要组成,人们在享受着现代信息技术带来的快捷方便中,实现了足不出户尽知天下事,轻......
本文主要讨论了集成电路(IC)测试的目的、分类、测试系统及测试技术,最后论述了系统集成芯片(SoC)的出现对测试技术提出了新的要求......
1、简介《VXI数模混合集成电路测试系统》的开发，对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义。VXI总线测试系统由于......
介绍了集成电路测试系统中程控直流电源的结构、工作原理,分析了影响程控直流电源准确校准的因素,提出采用开尔文连接校准程控直流......
集成电路测试系统微小微电子参量是指小于1毫伏的直流电压和小于1毫安的直流电流。对这些微小微电子参量进行校准是确保微电子参量......
作为目前被广泛使用的磁场传感器之一的霍尔传感器,在精密测量、工业自动化及家用电器,特别汽车电子等领域得到了出色的应用。随着......
在集成电路测试领域,传输延迟时间tPD是一个非常重要的参数,其不仅反映集成电路对信号的响应速度,也是集成电路测试系统交流参数测......
