集成电路测试相关论文
阐述基于LK8810S平台的数字集成电路测试技术，它对典型数字芯片74HC595测试，包括开路、短路、直流参数、逻辑功能进行测试，测试结果表......
集成电路测试专业人才匮乏的现状已经极大地制约了国内集成电路产业发展。对集成电路测试工程师的能力要求涵盖电子电路设计、集成......
阐述集成电路制造中芯片测试技术，四种trim的分类和修调与优化，基于案例分析，探讨trim的方法，提供trim的具体修调方法。......
设计的电路特性测试仪选用STM32F103为主控芯片,DDS芯片AD9854为正弦波信号源输出,OPA365构成小信号放大电路,AD637为有效值采样芯......
集成电路是新一代信息技术战略产业的基础,关乎国家的信息安全和经济安全。集成电路测试是集成电路产业链的关键技术环节,贯穿于设......
随着集成电路制造技术的飞速发展,电路的规模和复杂性不断提高,使得测试所需的时间和数据量快速增长,导致了测试效率的降低和测试......
随着物联网产业和信息产业逐渐兴起,集成电路产业也逐渐在其中占据着举足轻重的地位。目前,集成电路制造技术在不断进步,然而在集......
SOC可以有效地降低电子信息系统产品的开发成本,缩短开发周期,提高产品的竞争力,是未来工业界将采用的最主要的产品开发方式。为了......
集成电路（Integrated Circuit,IC）是一种微型的电子器件或部件,在现代电子设备中具有不可替代的重要作用。随着电子设计技术的快速发......
阐述一种集成电路防反插测试技术,该技术通过检测集成电路引脚之间的阻抗来判断集成电路的插装状态。根据对集成电路插装状态的检......
集成电路测试贯穿集成电路的设计、制造、封装和应用的整个过程,是验证集成电路质量和性能的重要手段,在整个生产流程中占据着不可......
长期以来,测试被认为是整个商用集成电路设计制造过程中最关键的环节之一。随着半导体制造技术的快速发展,电路的规模和复杂度与日......
为了解决高速数电芯片测试速度慢、测试精度低的问题,提出一种利用LK88系列测试平台对集成电路高速数电芯片参数进行有效测试的方......
集成电路测试技术是生产高性能集成电路和提高集成电路成品率的关键。随着集成电路制造技术的发展,电压测试和稳态电流测试方法已......
时延测试是检验电路时序正确性的有效手段,作为集成电路测试的一个关键环节,在芯片制造中被广泛使用。国际半导体蓝图预测2020年集......
基于中科院微电子所自主研发的V58300硬件平台,设计实现了一种集成电路功能测试系统。该系统包含上位机与下位机两部分,通过在上位......
静态随机存储器(SRAM)在轨自检应用于星载电子设备上电初始化过程中,能够在电子设备开始工作前发现存储器的故障单元,为评估电子设......
随着集成电路工艺复杂度和设计复杂度的提高,集成电路的测试成本在总的设计成本中所占的比例正逐年攀升,集成电路的测试变得越来越......
早期的集成电路测试主要通过功能测试向量来完成,但随着系统复杂度的不断提高和工艺技术的日益发展,芯片测试的复杂度远远超出了人......
阐述了系统芯片(SoC)测试相比传统IC测试的困难,SoC可测性设计与测试结构模型,包括测试存取配置、芯核外测试层,以及测试激励源与......
对于VLSI中具有邻域子空间的电路模块,提出了一种高效测试生成方法.利用该方法得到了行波进位、超前进位加法器的测试生成,并予以......
借助一种ASIC测试系统中单片机与PC机的通信软件,单片机系统可以单独工作,也可以与PC机联机作,由此可改变测试系统的测试参数设置,......
在交迭测试体系［１，２］ 的基础上提出了一种利用二选一开关辅助扫描寄存器的排序、能够实现最小测试应用时间的单扫描链的构造方法，给出了......
支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用和可测性设计(DFT)的研究,使边界扫描测试技术得到广阔的发展。我们以边界扫描测试技......
电流型运算放大器(CFA)主要用于视频信号处理、HDTV系统,以及驱动A/D、D/A转换器等;具有驱动能力强、工作频率高、工作频带宽等特......
随着国家集成电路产业的推进发展,高校专业人才培养工作越来越受重视,集成电路测试实验室建设管理是推进学生专业知识技能提升以及......
射频集成电路(RF IC)是无线通信、雷达等电子系统中非常关键的器件,由于其高频特点,准确评估RF IC的性能具有相当的难度.文章以射......
以尽可能短的测试序列长度对被测电路达到较高的故障覆盖率为目标,基于细胞自动机的基本原理和分类,以及在超大规模集成电路伪随机......
基于覆盖率驱动的验证,介绍SD-HOST的结构,划分SD-HOST的验证功能点。研究SD卡初始化过程并且完成了对应的测试案例的编写,搭建基......
分析了CMOS集成电路的功耗来源,介绍了CMOS集成电路的低功耗测试向量生成器的电路结构.为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率......
设计了一种基于虚拟仪器技术的混合集成电路的性能参数自动测试系统.简要介绍了测控系统的总体设计方案和基本的硬件配置结构,详细......
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简述了集成电路测试数据的一些处理方法，包括临界数据的处理、异常数据的判定和剔除、测试结果有效位数的确定等；介绍了在进行集成电......
文章介绍了自动测试系统的原理与内部模块之间的工作过程及系统的总体结构。懈决了精确测量单元等关键技术．研制了一种通用性强，成本......
在系统芯片可测试性设计中考虑功耗优化问题是当前国际上新出现的研究领域.在可测试性设计中考虑功耗的主要原因是数字电路在测试......
摘 要 集成电路测试随半导体技术的发展变得日益重要，在电子类本科专业开设集成电路测试与可测性设计课程，可以完善学生的专业知识结......
随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.为此提出一种面向受害线上......
跟踪研究了近年来国外在电子元器件可靠性试验方面的发展现状与趋势，主要包括集成电路新的试验方法；大规模集成电路测试方面存在的问......
卫星导航射频芯片是导航系统中的关键部分,其指标的优劣决定着导航系统的导航精度。通过分析卫星导航射频芯片的结构特点,针对主要......
搭建的一套基于普通集成电路测试仪的集成电路瞬态电流测量-采集-分析系统满足了集成电路瞬态电流采集高速、处理数据量大的要求.......
IP核测试验证的目的在于检测其是否存在功能和时序错误,从而对IP核进行修改,提高产品的可靠性。结合用户设计的IP核测试要求,研究I......
基于SDK的WiFi模块的测试工作量十分巨大,尤其是对于不同WiFi模组、不同WiFi路由器的兼容测试十分费时费力,仅靠手工测试或者半自......
R＆S测试方案创新应对集成电路测试难题R＆S公司将参加于2009年2月26至27日在深圳会展中心、3月10日至11日在上海世贸商城举办的“2009......
由被测电路自己施加测试向量的内建自测试方法把被测电路视为一种可利用的资源,而不仅仅是被测试的对象.通过将被测电路内部一些节......
在集成电路的测试中,通常需要给所测试的集成电路提供稳定的电压或电流,以作测试信号,同时还要对信号进行测量,这就需要用到电压电......
为应对数据通道测试中向量生成计算复杂度的日益增长,针对加法器进行研究,提出了一种基于分治策略的加法器测试向量生成技术。首先......
