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本文介绍了薄膜聚合物存储器的体系结构,驱动线路,制造工艺,以及它在存取速度、功耗、存储容量、生产能力、制造成本和日常运用等......

讨论了铁电薄膜记忆特性的检测方法，研制了专用的测试仪器，并利用它测试了Ａｕ／ＢＩＴ／ＰＬＺＴ／ＢＩＴ／ｎ－Ｓｉ铁电薄膜的记忆性能。发现其具有二极管特性且２个读信号对应......