采用统计相关法测试晶体管芯片热响应

来源 :中国电子学会电子产品可靠性与质量管理学会第四届学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wayaya123
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该文提出了采用统计相关法测晶体管芯片的动态响应。统计相关法和脉冲测试法相比,具有精度高、测试范围大、测试时间短等优点,且能在不同功率条件下进行在线测试。该文以微机系统为核心,采用程控m序列信号源、模拟相关器等完成芯片热响应的测试。并且采取了硬件电路与软件相结合的措施,提高了测试的精度。通过所测得的芯片热响应,可检测芯片的烧结质量,因此统计相关法可作为较理想的无损检测手段。(本刊录)
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