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电力电子技术和器件的现状、市场及走势
【出 处】
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中国电工技术学会1994机电一体化学术会议
【发表日期】
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1994年期
其他文献
电子元器件的小型化使得失效分析越来越困难。为了解决小型化器件的失效分析问题，该文研究了将通常用于ＬＳＩ〈，ｓ〉的“聚焦离子束（ＦＩＢ）”技术应用于通用电子元器件和材料失效分析的可行性