全自动反应离子腐蚀3"GaAs片实验研究

来源 :第九届全国化合物半导体.微波器件.光电器件学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:jeaceinter
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介绍全自动反应离子腐蚀3″GaAs片的实验研究工作。包括设备简介,腐蚀速度与射频功率、腐蚀气体流量的关系等,并对获得的结果进行初步分析。
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