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会议论文
一种新型ESD保护结构
一种新型ESD保护结构
来源 :第八届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:surfing203
【摘 要】
:
对于高速CMOSLSIS电路,ESD(electrostaticdischarge)保护结构越来越受到人们的重视,已经设计和开发出许多保护结构.在这篇文章中主要介绍一种新型共同释放路线CDL(commondisc
【作 者】
:
陈桂梅
袁凯
许仲德
【机 构】
:
中国电子科技集团公司,第四十七研究所,沈阳陵园街二十号,110032
【出 处】
:
第八届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会
【发表日期】
:
2005年期
【关键词】
:
保护结构
共同释放路线
内部电路
保护器件
设计
开发
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对于高速CMOSLSIS电路,ESD(electrostaticdischarge)保护结构越来越受到人们的重视,已经设计和开发出许多保护结构.在这篇文章中主要介绍一种新型共同释放路线CDL(commondischargeline)结构,可以消除ESD保护器件对内部电路工作的影响.
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模态
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会议
高压太阳阵
评价试验
航天器充电
试验结果
静电
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损坏
事件
电导
地面
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