随着红外技术的发展，红外焦平面器件在国防、工业和科学技术领域得到了广泛的应用，如导弹跟踪、红外侦查、工业检测和材料科学等，因此红外焦平面器件的激光辐照效应也随之成为国内外相关领域的一个研究热点。但以往的研究工作主要集中在单元探测器微观层次上的载流子输运、混沌效应、吸收机制等，对于红外线阵器件，特别是带有读出电路线阵器件的激光辐照效应研究还鲜有报道。本文选用目前普遍采用的带有CTIA读出电路的短波线阵HgCdTe器件作为研究对象，系统研究了线阵HgCdTe探测器对连续激光与超短脉冲激光的响应特性，实验发现了4种新现象，并对两种体制激光的作用机制展开研究。其主要工作和结论如下：1.连续激光对线阵HgCdTe探测器的辐照效应研究。通过实验，探测到了线阵器件输出信号随光照强度变化的全过程，在观察到被辐照像元升压、饱和、过饱和降压、低压输出等基本光信号响应现象的基础上，发现了随激光功率密度的增大，未被辐照像元基底信号响应值整体先下降后上升，并且噪声增大的响应规律。研究结果表明，CDS相关双采样电路使探测器基底信号也存在光响应是导致被辐照像元光信号响应异常的主要原因；探测器内部公共P极结构、电路共用Vref参考电压结构是导致未被辐照像元存在整体基底信号响应的主要原因。2.线阵HgCdTe探测器光学串扰问题研究。系统研究了器件内外部结构对线阵器件光学串扰的影响。理论计算表明，器件内部结构的衬底外延层厚度与器件外部结构的真空层对光串扰的影响最大，光串扰大小约为8.7%，即使实验中最大激光功率密度也不足以引起所有未被辐照像元输出信号发生较大改变，因此光学串扰并非影响线阵器件未被辐照像元输出信号的主要因素。3.超短脉冲激光对线阵HgCdTe探测器的辐照效应研究。实验发现了3种不同于对连续激光响应的新现象：保持相同辐照位置、相同辐照光强，线阵器件存在多种输出响应；当光强较大时，激光辐照线阵器件当帧的响应对后续无激光辐照时的信号输出存在续扰效应；线阵器件出现电压下降的反向光响应，且随时间成周期平移变化。研究表明，脉冲激光辐照时刻相对于线阵探测器工作时序具有变动性是导致线阵探测器存在多种输出响应的根本原因；探测器处理电路无法将激光辐照当帧读出后的信号电荷完全清零是续扰现象存在的主要原因；反向周期平移现象可能是由于探测光敏元的负光伏响应以及脉冲激光辐照时刻相对于器件工作时序的循环变化所致。本文的研究结果对线阵器件特性的深刻认识及性能的改进具有重要的指导意义，同时对其相关领域问题的研究具有重要的参考价值。