有机电致发光器件（OLED）因为具有自发光、相应速度快、超薄、视角宽大、发光效率很高、低耗电、适用不同衬底等显著的优点，在近几年来，得到越来越多的人重视。同时由此，OLED也被人们寄予厚望，被誉为下一代主流的平板显示技术之一。尽管OLED具有很多的优点,但与目前市场内主流的显示技术相比，仍然存在着制约其真正实现市场化的因素。其中OLED的寿命问题就是其中重要的因素之一。目前尽管市场上存在有OLED的寿命测试仪器，但存在着价格昂贵、操纵不方便等因素，很难满足实验室里测试的需求。本文中，设计了一款新型的OLED测试系统，本系统集电压模式设置和信号采集于一身，可以很方便的进行寿命的记录。本系统是基于89C52单片机的寿命测试系统，本系统具有以下功能:系统电压可以用软件进行设置，在一个电压周期之内，各种模式的电压所占的时间比可以控制，可以通过对预充电压，正向电压，反向电压，恒流源等的数值大小，电压持续时间，以及预设模式周期进行设计；系统不仅仅测量OLED的发光时长，还可以测量加载OLED两端的电压，并能进行保存记录，使实验结果更具有对比性；装置的扩展性好；可更具用户的后续需求，进一步扩展，以便测量更多的有关OLED的性能参数；具有无人值守测试功能；用户可以根据需要灵活的进行测试；系统构架成本低，操作简单。该系统具有很宽的测试范围，可以提供给器件的工作电压可以达到30V。本文从硬件的设计和软件的设计两个方面，详细地论述了本寿命测试系统的开发过程。该寿命测试系统以目前常用的89C52单片机做为整个系统的控制中心，硬件由A/D,D/A,集成运算放大器，传感器等构成；系统软件使用单片机开发软件Keil进行编译，软件主要包括：系统的初始化，读数据程序，写数据程序，串口通信程序，系统时钟等等。