本文利用纵向反应显微成像谱仪，系统研究了中低能入射条件下，Ne和Ar原子的(e，2e)反应的电离机制，对入射电子与靶电子两体碰撞的一阶作用机制以及靶核参与反应的高阶作用机制给出了清晰的物理图像。第一部分工作在入射电子能量为80eV到2300eV范围内，实验确定了(e，2e)反应的反冲离子动量分布，发现了大纵向动量的反冲离子具有重要的贡献，得到了入射炮弹和靶核之间存在强库仑作用的证据，通过将实验结果与电子原子弹性散射单重微分截面比较，证明了入射炮弹绕核的弹性散射在中低能(e，2e)反应中所起的重要作用。同时，利用击出电子对散射电子轨迹的干扰，所导致的干涉效应的减弱，解释了电离反应单重微分截面中尖锐极小值的消失。在第二部分工作中，通过对102eV入射能量下Ne原子的(e，2e)反应三重微分截面进行分析，我们得到以下结论：(1)在小角度散射和非对称出射条件下，一阶作用不但决定了散射平面内微分截面的整体特征，而且决定了法向平面以及动量转移垂直平面内微分截面的极大值和极小值的位置。而高阶作用的相对贡献较小。(2)在动量转移法向平面内，高阶作用能够更加明显地表现出来。我们得到了该平面内Ne原子的(e，2e)反应的三重微分截面，并将其与He原子单电离反应的实验结果进行对比，发现两者在最大值和最小值的位置上具有相似性，这种相似性来源于入射炮弹绕核弹性散射的高阶作用。最后，我们利用直观的物理图像，对该高阶碰撞机制进行了定性的解释。