模数转换器（Analog To Digital Converter,ADC）作为模拟信号向数字信号转换的必要器件,在航天、精密测量、无线通讯等多个领域有着重要的作用。由于实际应用的需要,ADC的性能也在不断的提升。高精度ADC使用传统的测试方法及设备测试时存在的测试时间过长、测试信号纯度要求高等问题。因此,根据高精度ADC的特点研究高精度ADC的测试方法具有重要的意义。本课题主要研究内容如下:（1）高精度ADC测试方案设计。研究传统高精度ADC测试算法,进行高精度ADC测试需求分析,针对高精度ADC测试存在的测试时间长以及信号源纯度要求高等难点,设计了基于ATE机的高精度ADC测试方案。（2）高精度ADC静态参数高效测试技术。分析了具有分段架构的高精度SAR ADC的特性,并进一步研究了分段识别线性误差算法、对ADC的INL进行分段并分别估计每一子段的INL,将各子段的INL之和作为ADC的实际INL。与传统的斜坡直方图相比,减少了10倍采样点数,提高了高精度ADC的测试效率。（3）数字信号输入/输出模块（Digital Signal Input Output,DSIO）设计。根据高精度ADC的测试需求,进行ATE数字模块DSIO功能逻辑设计,支持以序列触发的方式完成对高精度ADC控制与数据采集,且可以对采集向量进行压缩。（4）高精度ADC测试器件接口板（Device Interface Board,DIB）设计。根据测试方案设计并实现了通道隔离及选择电路,锁相环与分频器结合的低抖动时钟电路,低噪声电源电路,电池充电管理电路,结合基准滤波器的超低噪声基准电压电路,以及模拟通道调理电路。本课题针对24bit ADC AD7766设计了高精度ADC测试方案,通过研究分段识别线性误差算法缩短了测试时间,同时对测试系统硬件进行设计,最后对其主要参数进行测试。ADC主要参数测试结果INL 10.76ppm、THD-110.60d B、SNR107.75d B,均满足测试需求,为高精度ADC测试提供了一套完整的解决方案。