论文部分内容阅读
随着电子元器件在武器装备上的应用越来越广泛，其贮存可靠性日益受到业界专家的重视与关注。海军用电子元器件（如双极型晶体管），由于贮存于高温、高湿、高盐雾的海洋环境下，容易在贮存过程中发生失效。因此，为了探求评价海洋环境下晶体管长期贮存可靠性的快速而高效的方法，本文在前期单应力加速寿命试验的基础上，设计并搭建了综合应力加速试验平台，开展了基于海洋环境的综合应力下晶体管长期贮存可靠性的研究，对海洋环境军用电子元器件贮存可靠性评价技术的发展具备一定的参考价值。 本文主要研究工作和成果如下: 1.引入支持向量机(Support Vector Machine，SVM)回归预测方法，介绍了SVM回归预测原理及核函数的选择，并将SVM方法应用于海洋环境下晶体管长期贮存寿命的预测，建立了训练和回归模型。 2.开展了海洋环境下的现场试验，包括近海仓库和近海舰船搭载晶体管贮存试验，分析了试验样品的失效及参数退化情况，并用SVM方法对试验样品进行了寿命预测，将其作为综合应力加速试验预测评估方法效果的参考。 3.在前期单应力摸底试验的基础上，结合海洋环境的实际情况，确定了失效敏感参数及试验条件，设计并搭建了综合应力试验系统，以3DK104A型晶体管为试验样品，分组进行了不同条件下的综合应力加速试验，分析了各组试验样品的参数退化及管壳腐蚀情况，使用SVM方法对各加速条件下的寿命进行了预测。 4.结合试验数据，在Peck模型中加入了盐雾应力项，利用改进后的Peck模型对综合应力试验数据进行处理分析，使用实验室自主研发的数据处理程序确定其寿命分布类型，最后给出了各组应力条件所对应的加速因子，确定了海洋环境下晶体管长期贮存寿命。 5.对综合应力试验中的典型失效试验样品进行了失效检查，分析了晶体管性能退化及失效机理，提出了改善海洋环境下晶体管长期贮存可靠性的方法及措施。