该文在前人实验的基础上,提出了另外一种方法来分析热-场发射的噪声.先对热-场发射过程中的两个基本特点进行概括的描述,再结合实际情况对热-场发射噪声形成机理进行理论的分析,并对照Troyan等人所采用的频谱分析仪方法,用计算机对采集到的噪声信号实现功率谱估计.在此过程中,回顾了实现这种稳定随机信号功率谱估计的平均周期图法.实验同时研究了纯钨<100>的热发射、场致发射及热-场发射,分析了在噪声产生的过程中,温度、外加电场对其的影响：随着温度、外加电场的增加,发射电流增大,则噪声电流也随之而加大;而真空度的影响则与温度和电场的影响不同：随着真空度的增加,表面逸出功的变化减小,发射电流的变化也减小,噪声电流的波动也就随之而减小了.最后,文章讨论了影响热-场发射噪声的散粒效应与闪烁效应,得出了对比噪声形成机理的理论分析与实验结果是一致的,其实验结论与Swanson和Troyan等人对ZrO/W<100>和HfO/W<100>热-场发射阴极的研究结果也是相类似的,说明该文的研究方法是具有实际意义的.