随着半导体工艺的发展，IC规模的增大和复杂度的提高，传统的IC设计方法已经不能满足基于深亚微米工艺的片上系统(SoC)芯片的需求，因此，基于IP复用的设计方法已成为当前SoC设计的主流方式。 通用串行总线(USB)因其结构简单、使用灵活、扩展方便，而成为外围设备发展的趋势。本论文以USB接口IP核为载体，对深亚微米IP核的设计和验证技术进行了研究。 本论文从基于IP复用的SoC设计方法学入手，在深亚微米工艺下，利用SMIC0.18工艺库，完成了USB1.1 IP核的设计和验证工作。设计工作包括系统级设计、RTL级设计、逻辑综合和自动布局布线，验证工作包括可复用IP核层次化功能验证平台的设计、功能仿真、时序仿真、物理验证和硬件仿真(FPGA验证)，得到了符合功能和时序要求的门级网表和版图。本论文设计的可复用IP核功能验证平台，实现了测试向量的可读性、验证结果的可观测性和错误自动定位功能，并且可以在相关设计中复用，相关成果已经形成论文在国际会议上报告。 本论文所研究的设计和验证技术具有普遍意义，为相关领域的IP设计和验证积累了经验。