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为了能在实验室中对表面电荷进行观测,该文采用静电探头法对表面电荷进行测量.通过对静电探头法的改进,使得静电探头测量系统的设计更加规范、科学.测试结果表明该文设计的新型电容探头与有些国外研究者采用的探头相比具有电荷分辨率高、感应电荷泄漏少等明显的优点.该文首先对直流电压作用下的表面电荷积聚过程、影响因素进行了实验研究.测量了表面电荷分布随时间、电压幅值、极性、外界环境等因素的变化规律.建立了绝缘子表面电荷密度与电压幅值、时间、介质的介电性能等之间的关系方程.研究表明有些国外研究者在研究直流电压作用下平板电极结构中表面电荷积聚问题所采用的方程只是该文方程的一个特例.实验和理论分析表明该文建立的模型涵盖了目前已有的法向场强模型和体积电导模型,因而该文提出的模型适用范围更广.根据以上研究结果该文提出直流电压作用下抑制表面电荷积聚的两条途径.