近年来，由于X射线光刻技术，空间技术，以及激光引爆的惯性约束聚变(ICF)的过程诊断等的需要，X射线成像技术迅速发展。X射线在介质中被强烈地吸收，再加上介质的折射率在X射线波段略小于1，这些因素给X射线成像增加了很多难度，常规的成像方法难以适应X射线波段。目前多采用掠入射反射成像和编码孔径成像方法。本文详细论述了WolterⅠ型X射线掠入射成像系统的发展及研究现状，主要介绍了WolterⅠ型望远镜的设计过程并对所设计的系统进行了像差分析和成像质量评价。鉴于掠入射系统结构的特殊性，一般的光学设计CAD软件很难适应，我们编写了适用于Wolter望远镜系统的光路计算程序，并利用这个程序进行了大量的光路计算。本文从光学设计的角度出发，在WolterⅠ型望远镜的结构设计、像差分析和成像质量评价等方面做了深入的研究和分析，并提供了大量的数据，这些数据是分析WolterⅠ型望远镜系统的合理性及系统加工和调装的可靠依据。从分析的结果来看，所设计的WolterⅠ型望远镜没有任何的轴上像差，但是有比较严重的慧差、像散和像面弯曲。