两种硅泡沫材料耐电子束辐射性能的研究

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采用傅立叶红外(FT-IR)谱仪、万能材料试验机、电子蠕变松弛试验机分析了辐照前后材料的化学结构、压缩性能和应力松弛率的变化.同时使用质谱(MS)仪确定了辐解气体产物的组分,并通过负压进样系统利用气相色谱(GC)仪准确测定了气体产量.结果表明,两种硅泡沫材料经辐照后其化学结构和力学性能都发生了改变,相同条件下甲基乙烯基硅泡沫(MVSF)的力学性能受吸收剂量影响比甲基苯基乙烯基硅泡沫(MPVSF)更为显著;MVSF辐解的气体产量比MDVSF的高.综合分析结果,认为MPVSF的耐辐射性比MVSP的强,因此推荐
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